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Filmetrics F10-RT薄膜厚度测量仪

Filmetrics F10-RT薄膜厚度测量仪

同步测量薄膜的反射率/穿透率

不需要费时改变硬件配置,F10-RT仅需要透过单击滑鼠就能够同时收集反射与透射光谱,不到一秒钟的时间,阵列的光谱仪就可以快速的收集到资料。另外,Filmetrics专利的AutoBaseline设计可以减少十倍以上的基准矫正的参数读取时时间。

分析优点

F10-RT使Filmetrics的分析能力实现了同步测量反射率与穿透率。只要立即的点击滑鼠就能够产生在客户指定波长范围内,得出最大与最小的反射率与穿透率。系统内置边缘检测分析与FWHM分析,以及能展现于常见的空间色彩系统的色彩分析(例如: CIELAB与CIEXYZ)。而测量光谱与其他的数据能够很容易的透过打印与导出或以JPEG图片形式来传送。同时, 选配的膜厚和参数解算模块使F10-RT具有与Filmetrics F20相同多层薄膜分析能力。

健全、可靠的集成

F10-RT運送抵達時具有完整的標準配備,小巧的機身與USB接口保證使您容易安裝。整机无任何运动件,除钨卤素灯外无需其他维护,确保设备高度可靠。


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