Thetametrisis FR-pRo膜厚仪 膜厚测量仪

1. 产品概述

1. FR-pRo膜厚仪: 按客户的需求量身定制的薄膜特性测量工具。
2. FR-pRo膜厚仪是一个模块化和可扩展平台的光学测量设备，用于测量厚度范围为1nm-1mm 的涂层。
3. FR-pRo膜厚仪广泛应用于各种不同的应用。 包括：
4. 吸收率/透射率/反射率测量，薄膜特性在温度和环境控制下甚至在液体环境下的表征等等…

2. 膜厚仪应用

• 大学&研究实验室
• 半导体行业
• 高分子聚合物&阻抗表征
• 电介质特性表征
• 生物医学
• 硬涂层，阳极氧化，金属零件加工
• 光学镀膜
• 非金属薄膜等等…

FR-pRo膜厚仪可由用户按需选择装配模块，和心部件包括光源，光谱仪（适用于 200nm-2500nm 内的任何光谱系统）和控制单元，电子通讯模块。

此外，还有各种各种配件，比如:

• 用于测量吸收率/透射率和化学浓度的薄膜/试管架；
• 用于表征涂层特性的薄膜厚度工具；
• 用于控制温度或液体环境下测量的加热装置或液体试剂盒；
• 漫反射和全反射积分球。

通过不同模块组合，蕞终的配置可以满足任何终端用户的需求。

3. 膜厚仪规格（Specificatins ）

4. 膜厚仪配件（Accessries） 

5. 膜厚仪工作原理

白光反射光谱(WLRS)是测量垂直于样品表面的某一波段的入射光，在经多层或单层薄膜反射后，经界面干涉产生的反射光谱可确定单层或多层薄膜（透明，半透明或全反射衬底）的厚度及 N*K 光学常数。

* 规格如有更改，恕不另行通知; ** 厚度测量范围即代裱光谱范围，是基于在高反射衬底折射率为 1.5 的单层膜测量厚度。